Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.
GEÇİRİMLİ ELEKTRON MİKROSKOPİ (TEM) TEKNİKLERİ İLE SİALON ESASLI MALZEMELERİN ATOMİK ÖLÇEKTE KARAKTERİZASYONU
Atomic scale characterization of SİAlON based materials through transmission electron microscopy (TEM) techniques
Yükleniyor
Tez No: 304573