Filtrele
Simulation of steady-state response of tip-sample interaction for a torsional cantilever in tapping mode atomic force microscopy for material characterization in nanoscale
Nano ölçekte materyal karakterizasyonu için vurma modu atomik kuvvet mikroskopisinde torsiyonel kaldıraç kullanıldığında uç yüzey etkileşiminin denge durumu davranışının simulasyonu
Yükleniyor
Tez No: 275091
Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.