Ana Sayfa
Tarama
Mevzuat
İstatistikler
SSS
Yasal Uyarı
Bize Ulaşın
Tez detay yükleniyor...
Tarama sonucunda 1 kayıt bulundu.
No
Tez No
Yazar
Yıl
Tez Adı (Orijinal/Çeviri)
Tez Türü
Konu
1
333013
BEHZAT DEGE
2013
TiN ince filmlerde bias voltajına bağlı olarak kalıntı gerilme değişiminin incelenmesi
The residual stress analysis of TiN thin films depending on changing bias voltage
Yüksek Lisans
Metalurji Mühendisliği = Metallurgical Engineering
Satırlar(Rows) 1-1 of 1
«
1
2
3
4
5
»
Satırlar(Rows)
30
40
50
100
Sütunlar(Columns)
No
Tez No
Yazar
Yıl
Tez Adı (Orijinal/Çeviri)
Üniversite
Dil
Tez Türü
Konu
2025 © ULUSAL TEZ MERKEZİ
İnternet sitemizi en iyi şekilde görüntüleyebilmek için Google Chrome ya da Mozilla Firefox tarayıcısını kullanmanızı öneririz.