Tarama sonucunda 1 kayıt bulundu.
NoTez NoYazarYılTez Adı (Orijinal/Çeviri)Tez Türü Konu
1333013BEHZAT DEGE2013TiN ince filmlerde bias voltajına bağlı olarak kalıntı gerilme değişiminin incelenmesi
The residual stress analysis of TiN thin films depending on changing bias voltage		Yüksek LisansMetalurji Mühendisliği = Metallurgical Engineering

Satırlar(Rows) 1-1 of 1

  •  No
  •  Tez No
  •  Yazar
  •  Yıl
  •  Tez Adı (Orijinal/Çeviri)
  •  Üniversite
  •  Dil
  •  Tez Türü
  •  Konu
2025 © ULUSAL TEZ MERKEZİ
İnternet sitemizi en iyi şekilde görüntüleyebilmek için Google Chrome ya da Mozilla Firefox tarayıcısını kullanmanızı öneririz.