Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.
TİN İNCE FİLMLERDE BİAS VOLTAJINA BAĞLI OLARAK KALINTI GERİLME DEĞİŞİMİNİN İNCELENMESİ
The residual stress analysis of TiN thin films depending on changing bias voltage
Yükleniyor
Tez No: 333013