Bazı tek ve çok katmanlı ince film yapıların X-ışını saçılma ve X-ışını kırınımı yöntemleri ile incelenmesi Structural investigation of some mono and multilayer thin films by X-ray scattering and X-ray diffraction methods
Yüksek Lisans
Fizik ve Fizik Mühendisliği = Physics and Physics Engineering