Filtrele
Metal-yalıtkan-yarıiletken (Au/SiO2/N-Si) yapıların elektriksel özelliklerinin I-V ve C-V ölçüm metotları ile incelenmesi
The investigation of electrical characteristics of metal-insulator-semiconduktor (Au/SiO2/N-Si) structures by using I-V and C-V mensurements methods
Yükleniyor
Tez No: 245606
Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.