Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.
NON CONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPY INVESTIGATION OF SILICON NANOPARTICLES DEPOSITED ON HOPG
Hopg üzerine depolanmış silisyum nanoparçacıkların temazsız atomik kuvvet mikroskobu ile incelenmesi
Yükleniyor
Tez No: 778870