Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.
KİMYASAL BUHAR BİRİKTİRME METODU İLE HAZIRLANAN SİLİSYUM TABANLI İNCE FİLMLERİN KALINLIKLARININ OPTİK YOLLA BELİRLENMESİ
Optical determination of thickness of silicon-based thin films prepared by chemical vapor deposition method
Yükleniyor
Tez No: 346576