Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.
ELECTRICAL CHARACTERIZATION AND GAMMA IRRADIATION RESPONSE OF HFSIO4 METAL OXIDE SEMICONDUCTOR (MOS) CAPACITORS
HFSIO4 metal oksit yarıiletken (MOS) kapasitörlerin elektriksel karakterizasyonu ve gamma radyasyonu duyarlılıkları
Yükleniyor
Tez No: 479178