Filtrele
Investigation of line edge roughness in current-controlled field-emission scanning probe lithography: ımage reversal vs. direct-write
Akım kontrollü, alan salımlı taramalı sonda litografisinde çizgi kenar pürüzlülüğünün incelenmesi: imge tersinimi ile doğrudan yazmanın karşılaştırılması
Yükleniyor
Tez No: 591117
Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.