Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.
METAL-YALITKAN-YARIİLETKEN (AU/SİO2/N-Sİ) YAPILARIN ELEKTRİKSEL ÖZELLİKLERİNİN I-V VE C-V ÖLÇÜM METOTLARI İLE İNCELENMESİ
The investigation of electrical characteristics of metal-insulator-semiconduktor (Au/SiO2/N-Si) structures by using I-V and C-V mensurements methods
Yükleniyor
Tez No: 245606