Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.
A^III B^III C_2^VI TABANLI YARIİLETKEN CİHAZLARIN KAPASİTANS, DİELEKTRİK VE ADMİTANS SPEKTROSKOPİSİ YÖNTEMLERİYLE İNCELENMESİ
Analysis of A^III B^III C_2^VI based semiconductor devices by capacitance, dielectric and admittance spectroscopy methods
Yükleniyor
Tez No: 894950