Filtrele

Si (111) alttaşı üzerine büyütülmüş AIN ince filmlerin elipsometri tekniği ile optik karakterizasyonu
Optical characterization of AIN thin films grown on Si(111) substrate by ellipsometry
Yükleniyor
Tez No: 712140
Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.