Filtrele
Nanokristalli-MOS (metal-oksit-yarıiletken) kapasitörlerde zamana bağlı kapasitans ölçümleri
Retention time dependence on capacitance measurements of MOS (metal-oxide-semiconductor) capacitor with nanocrystals
Yükleniyor
Tez No: 343299
Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.