Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.
PLAZMA İLE BİRİKTİRİLMİŞ NANOKRİSTAL SİLİSYUM FİLMLERİN GÖRÜNÜR-YAKIN KIZILÖTESİ BÖLGE GEÇİRGENLİK ÖLÇÜMLERİ VE YAPISAL ÖZELLİKLERİ ARASINDAKİ KORELASYONUN İNCELENMESİ
Correlation between visible-near infrared transmittance measurements and structural properties of plasma deposited nanocrystalline silicon films
Yükleniyor
Tez No: 446957