Filtrele
Tek renk kırınım faz mikroskopisi kullanılarak elektrokimyasal biriktirme yöntemi ile üretilen kurşun sülfür (PBS) yarıiletken ince filmin kalınlığının belirlenmesi
Determination of thickness of lead sulphide (PBS) semiconductor thin film produced by electrochemical deposition method using single color diffraction phase microscopy
Yükleniyor
Tez No: 985170
Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.