Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.
THE EFFECTS OF PRIOR NITRIDATION PROCESS OF SILICON SURFACE AND DIFFERENT METAL GATES ON THE CAPACITANCE VOLTAGE CHARACTERISTICS OF METAL-TA2O5-SI MOS CAPACITOR
Metal-TA2O5-SI MOS kapasitörlerde silisyum yüzeyinin ön nitrürleme işlemi ve farklı metal kontaklarin kapasite gerilim karakteristiklerine etkileri
Yükleniyor
Tez No: 202232