Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.
YARIİLETKEN NANOKRİSTAL YAPILAR İÇEREN CAM MALZEMELERİN KIRILMA İNDİSLERİNİN İNTERFEROMETRİK YÖNTEMLERLE BELİRLENMESİ
Determination of refractive indices of glass materials containing semiconductor nanocrystal structures via interferometric methods
Yükleniyor
Tez No: 180537