Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.
SELECTION FIELD INDUCED ARTIFACTS IN MAGNETIC PARTICLE IMAGING AND A NOVEL FRAMEWORK FOR NANOPARTICLE CHARACTERIZATION
Manyetik parçacık görüntülemede seçme alanı kaynaklı artefaktlar ve özgün bir nanoparçacık karakterizasyon yöntemi
Yükleniyor
Tez No: 649370