Filtrele
Mn katkılı TlınS2 düşük boyutlu yarıiletken malzemede oluşan tuzakların optik ve ESR yöntemi ile incelenmesi
The investigation of traps/defects in mn doped TlinS2 low dimensional semiconductor by ESR/EPR and optical techniques
Yükleniyor
Tez No: 806553
Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.