Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.
YARIİLETKEN MALZEMELERDE KUSURLARIN YÜK YAYINLAMA VE YAKALAMA SÜREÇLERİNİN KAPASİTİF YÖNTEMLERLE KARAKTERİZASYONU
Characterization of carrier emission and capture processes of defects in semiconducting materials by capacitive techniques
Yükleniyor
Tez No: 947876