Tez No	İndirme	Tez Künye	Durumu
232923		1.3 mikrometre dalga boyunda ışıma yapan GaInNAs yüzeyden yayımlı yarıiletken lazer sistemi / GaInNAs surface emitting semiconductor lasers at 1.3 micrometer operating wavelength Yazar:ZEHRA ŞENTÜRK Danışman: PROF. DR. YÜKSEL ERGÜN Yer Bilgisi: Anadolu Üniversitesi / Fen Bilimleri Enstitüsü / Fizik Ana Bilim Dalı Konu:Fizik ve Fizik Mühendisliği = Physics and Physics Engineering Dizin:	Onaylandı Yüksek Lisans Türkçe 2008 126 s.
Bu tezde ince film topluluğuna gelen bir elektromanyetik dalganın varlığında, sıkça kullanılan matris yöntemiyle şiddet yansıma katsayısı hesapları yapılmış; tabaka sayısının, tabakaların diziliminin ve kalınlıklarının sistemin yansıtıcılığına olan etkileri araştırılmıştır. Ayrıca yarıiletken lazerlerin aktif bölgelerindeki tabaka kalınlığının ve mod seçiminin bu bölgedeki elektrik alan yoğunluğuna dolayısıyla da kuşatma faktörüne olan etkileri incelenmiştir. Yapılan hesaplamalar yüzeyden yayımlı ve aktif tabaka kalınlığı alt ve üst Bragg yansıtıcılarından yansıyan ışığın ışıma dalga boyunda antifazda olma koşuluna göre belirlenmiş bir yarıiletken lazer sisteminde ışıma şartlarının incelenmesi için kullanılmıştır. Böyle bir yapı için fazın ve şiddet yansıma katsayısının dalga boyuna, elektrik alan yoğunlunun ise üst Bragg yansıtıcılarının tabaka sayısına bağlı olarak değişiminin sayısal simülasyonları sunulmuştur. Yüzeyden yayımlı lazerlerde üst Bragg yansıtıcıları, aktif tabaka ve alt Bragg yansıtıcıları üç tabakalı bir dalga kılavuzu meydana getirir. Bu nedenle elektrik alan yoğunluğunun tüm sistem içerisindeki dağılımını belirleyebilmek için yapı üçlü bir dielektrik ortama indirgenmiş ve asimetrik dalga kılavuzu analizi yapılmıştır.
In this thesis, using a well-known transmission matrix theory, the reflectance of a thin film assembly is calculated in the presence of an electromagnetic wave incident on the system. The effect of changing the number of layers and their arrangements, also the effect of their thicknesses on the reflectivity of the multilayer dielectric structure is investigated. It is examined how active layer thicknesses of the semiconductor lasers and the mode choices affect the electric field density or consequently the optical confinement factor in the active region. The calculations related to the reflectance of an assembly of thin films are used to get the emission wavelength for a surface emitting laser where the thickness of the active layer is chosen so that the field reflected from the bottom and top Bragg reflectors is in antiphase at the operation wavelength. For a structure designed like this, variation of the phase and the reflectivity spectrum against wavelength and also the change of the electromagnetic field density related to the number of top Bragg reflectors are presented by numerical simulations. Top Bragg reflectors, active layer and bottom Bragg reflectors give rise a three-layered dielectric wave-guide in a surface emitting semiconductor laser. So to get the electric field distribution in the system, asymmetric wave-guide analysis is used.