Tarama sonucunda 1 kayıt bulundu.
NoTez NoYazarYılTez Adı (Orijinal/Çeviri)Tez Türü Konu
1325543SELİN TOLUNAY2012Analysis of thermal drift in atomic force microscopy and design of compensating MEMS-based micro-stage
Atomik kuvvet mikroskobunda gözlenen ısıl sapmanın analizi ve sapma önleyici mikro-yapı tasarımı		Yüksek LisansElektrik ve Elektronik Mühendisliği = Electrical and Electronics Engineering

Satırlar(Rows) 1-1 of 1

  •  No
  •  Tez No
  •  Yazar
  •  Yıl
  •  Tez Adı (Orijinal/Çeviri)
  •  Üniversite
  •  Dil
  •  Tez Türü
  •  Konu
2025 © ULUSAL TEZ MERKEZİ
İnternet sitemizi en iyi şekilde görüntüleyebilmek için Google Chrome ya da Mozilla Firefox tarayıcısını kullanmanızı öneririz.