Filtrele
Makine öğrenmesi yaklaşımıyla yonga üretim sürecindeki yarı iletken levha hatalarının sınıflandırılması ve benzerliklerinin derecelendirilmesi
Classification and rating of wafer defect patterns in the chip manufacturing process by machine learning approach
Yükleniyor
Tez No: 715677
Arama sonucunda 1 kayıt bulundu.