Tarama sonucunda 1 kayıt bulundu.
NoTez NoYazarYılTez Adı (Orijinal/Çeviri)Tez Türü Konu
1649370ECRİN YAĞIZ2020Selection field induced artifacts in magnetic particle imaging and a novel framework for nanoparticle characterization
Manyetik parçacık görüntülemede seçme alanı kaynaklı artefaktlar ve özgün bir nanoparçacık karakterizasyon yöntemi
Yüksek LisansElektrik ve Elektronik Mühendisliği = Electrical and Electronics Engineering

Satırlar(Rows) 1-1 of 1

2025 © ULUSAL TEZ MERKEZİ
İnternet sitemizi en iyi şekilde görüntüleyebilmek için Google Chrome ya da Mozilla Firefox tarayıcısını kullanmanızı öneririz.